CL05B102KB5NNNC ตัวเก็บประจุแบบเซรามิกหลายชั้น MLCC SMD/SMT 1nF+/-10% 50V X7R 1005

รายละเอียดสินค้า

CL05B102KB5NNNC ตัวเก็บประจุแบบเซรามิกหลายชั้น MLCC SMD/SMT 1nF+/-10% 50V X7R 1005

ผลกระทบของ EOS (ไฟฟ้าเกิน) ‌

แรงดันไฟเกิน เช่น แรงดันไฟกระชากหรือ EOS อาจทำให้เกิดความเสียหายต่อ MLCC ส่งผลให้ไฟฟ้าลัดวงจรเกิดจากการสลายไดอิเล็กตริกใน MLCC‌

เวลาหยุดทำงานของ MLCC จะแตกต่างกันไปตามแรงดันไฟฟ้าที่ใช้และอุณหภูมิห้อง และไดอิเล็กตริกช็อตที่เกิดจาก EOS สามารถเร่งความร้อนบนไดอิเล็กตริกได้ดังนั้นจึงสามารถทำให้เกิดความล้มเหลวของ MLCC ในตลาดได้ในระยะเริ่มต้น‌

โปรดใช้ความระมัดระวังอย่าใช้แรงดันเกินทางไฟฟ้ามากเกินไป รวมถึงแรงดันไฟกระชาก MLCC เมื่อเตรียม MLCC สำหรับการทดสอบหรือประเมิน

(1) ไฟกระชาก เมื่อกระแสไฟเกินที่เกิดจากไฟกระชากถูกนำไปใช้กับ MLCC การไหลเข้าของกระแสไฟเข้าสู่ MLCC สามารถทำให้เกิดปรากฏการณ์โอเวอร์ชูตของแรงดันไฟดังแสดงในกราฟด้านล่างและส่งผลให้ไฟฟ้าลัดวงจรใน MLCCจึงต้องระมัดระวังไม่ให้กระแสไฟกระชากเข้า MLCC

(2) ESD (Electrostatic Discharge) เนื่องจากกระแสไฟสถิตย์สูงมากแต่ปริมาณประจุไฟฟ้ามีน้อยเมื่อเทียบกับไฟกระชาก ESD สามารถสร้างความเสียหายให้กับ MLCC ที่มีความจุต่ำดังแสดงในกราฟต่อไปนี้ ในขณะที่ไฟกระชากด้วย ปริมาณประจุไฟฟ้าจำนวนมากอาจทำให้เกิดความเสียหายต่อ MLCC ที่มีความจุสูง